Magneto-optischer Kerreffekt: Unterschied zwischen den Versionen

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Um zu zeigen, welche Informationen man aus Messungen des elektrischen Widerstandes an Metallen gewinnen kann, wird die Temperaturabhängigkeit zwischen 4 K und 300 K (-269°C und +27°C) an folgenden Systemen gemessen:
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'''506 Magnetisierungsuntersuchungen mittels Magneto-Optic Kerr Effect'''
  
a) Cu (99,999 % rein):    Streuung der Leitungselektronen an Gitterschwingungen (Pho­nonen), Unter­suchung der Gültigkeit der Bloch-Grüneisen-Theorie im Tief- und Hochtemperaturlimit, Restwiderstand bei T = 0 K .          
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Fällt ein linear polarisierter Lichtstrahl auf eine magnetische
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Probenoberfläche, so beobachtet man, dass sich die Polarisationsrichtung
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nach der Reflexion gedreht hat. Diese Eigenschaft bezeichnet man als
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magnetooptischen Kerreffekt (MOKE, 1876 von John Kerr entdeckt). Die
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Drehung der Polarisationsebene ist dabei proportional zur Magnetisierung.
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Mit diesem Effekt ist es möglich, magnetische Hysteresekurven an dünnen
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der Reflexion als Funktion des auf die Schicht einwirkenden Magnetfeldes
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registriert.
  
b) Au + 1 Atom-% V :     Spinstreuung der Leitungselektronen an magnetischen Verunreinigungen, Kondo-Effekt, Bestimmung des Widerstandsminimums und TKondo     
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[http://f-praktikum.ep1.rub.de/anleitung/Vers506.pdf Anleitung]
 
 
c) Dy : Spinstreuung der Leitungselektronen, Bestimmung der Ordnungstemperaturen, Neel- u. Curie-Temperatur.  
 
 
 
d) Nb3Sn : Bestimmung der Sprungtemperatur eines Supraleiters.
 

Aktuelle Version vom 21. Februar 2012, 15:17 Uhr

506 Magnetisierungsuntersuchungen mittels Magneto-Optic Kerr Effect

Fällt ein linear polarisierter Lichtstrahl auf eine magnetische Probenoberfläche, so beobachtet man, dass sich die Polarisationsrichtung nach der Reflexion gedreht hat. Diese Eigenschaft bezeichnet man als magnetooptischen Kerreffekt (MOKE, 1876 von John Kerr entdeckt). Die Drehung der Polarisationsebene ist dabei proportional zur Magnetisierung. Mit diesem Effekt ist es möglich, magnetische Hysteresekurven an dünnen Schichten aufzunehmen, indem man die Drehung der Polarisationsebene nach der Reflexion als Funktion des auf die Schicht einwirkenden Magnetfeldes registriert.

Anleitung