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		<title>509 Rasterkraftmikroskopie - Versionsgeschichte</title>
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		<title>Reicherz: Die Seite wurde neu angelegt: „'''509 Rasterkraftmikroskopie'''  Rastekraftmikroskopie (atomic force microscopy, AFM) ist eine Messverfahren zu Abbildung  von Oberflächen. Hierbei rastert e…“</title>
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		<summary type="html">&lt;p&gt;Die Seite wurde neu angelegt: „&amp;#039;&amp;#039;&amp;#039;509 Rasterkraftmikroskopie&amp;#039;&amp;#039;&amp;#039;  Rastekraftmikroskopie (atomic force microscopy, AFM) ist eine Messverfahren zu Abbildung  von Oberflächen. Hierbei rastert e…“&lt;/p&gt;
&lt;p&gt;&lt;b&gt;Neue Seite&lt;/b&gt;&lt;/p&gt;&lt;div&gt;'''509 Rasterkraftmikroskopie'''&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
Rastekraftmikroskopie (atomic force microscopy, AFM) ist eine Messverfahren zu Abbildung  von Oberflächen. Hierbei rastert eine feine Spitze die auf einem Biegebalken befestigt ist die Oberfläche. Die Kräftewechselwirkung zwischen der Spitze und der Oberfläche wird von dem Regelsystem des Mikroskops detektiert und ein Bild der Topographie übersetzt.  Im Gegensatz zur Rastertunnelmikroskop lassen sich auch nicht leitende Proben abbilden.  Die Studierenden erhalten den Überblick über die relevanten Kräfte, unterschiedliche Modi des Messverfahrens,  die Funktionsweise des Mikroskops und  typische Abbildungsfehler.  Im praktischen Teil des Experiments werden mehrere definierte Strukturen (µm Größen) und Nanopartikel (nm Größen)  in Kontaktmodus des AFMs abgebildet.&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
[http://f-praktikum.ep1.rub.de/anleitung/Vers509.pdf Anleitung]&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
[http://f-praktikum.ep1.rub.de/anleitung/Sonder509.pdf Bedienungsanleitung des Mikroskops (optinal)]&lt;/div&gt;</summary>
		<author><name>Reicherz</name></author>	</entry>

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